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科学研究

我院微纳光子芯片集成与智能检测科研团队研究成果发表于《Applied Physics Letters》

发布日期:2026-09-09

近日,我院微纳光子芯片集成与智能检测科研团队在国际知名学术期刊《Applied Physics Letters》上发表题为《Image denoising based on spin-torque diode with injection locking》的研究论文。论文第一作者为我院青年教师司亚中,原文链接:https://doi.org/10.1063/5.0349247

研究团队面向传统人工智能图像处理依赖软件计算、数据存储与计算频繁交互以及边缘端能效受限等问题,提出了一种基于磁隧道结(MTJ)自旋转移力矩二极管的硬件化图像去噪方法。该方法利用磁隧道结器件所具有的内禀非线性电学特性,将器件的物理响应引入神经网络非线性激活过程,构建具有硬件原生计算特征的人工神经元,并用于图像去噪任务。实验结果表明,在高噪声强度条件下,系统仍能够保持20 dB以上的PSNR和超过0.85的SSIM,表现出稳定的图像重建能力,为面向边缘智能的硬件原生人工智能技术提供了新的研究思路。

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(电子信息工程学院(集成电路科学与工程学院)/文、图:司亚中;审核:王绶玙)

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